空间辐射环境论文

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本文主要研究内容作者何安林,郭刚,沈东军,刘建成,史淑廷（2019）在《65nm工艺SRAM低能质子单粒子翻转错误率预估》一文中研究指出：质子单粒子效应是纳米工艺集成电路空间应...