苹果缺陷论文

本文主要研究内容作者孟庆龙,张艳,尚静（2019）在《基于高光谱成像技术无损检测苹果表面缺陷》一文中研究指出：基于高光谱成像技术结合模式识别,建立了苹果表面缺陷识别模型。首先,...